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| 美國能源部LED驅動器可靠性測試 性能提升明顯 |
| （時間:2019-8-27 7:51:21） |
據外媒報道，美國能源部（DOE）日前公布了第三份基于長期加速壽命測試的LED驅動器可靠性報告。美國能源部固態照明（SSL）研究人員認為，最新的結果都證實了加速壓力測試（AST）方法，在各種惡劣條件下都顯示出了良好的性能。此外，測試結果及測定的失敗因素都能告知驅動器開發人員進一步提升可靠性的相關策略。
眾所周知，LED驅動器與LED組件本身一樣，對于最佳光質量至關重要。合適的驅動器設計可以消除閃爍并提供均勻的照明。而驅動器也是LED燈或燈具中最可能發生故障的部件。在意識到了驅動器的重要性之后，DOE從2017年就開始了一個長期的驅動器測試項目。該項目涉及單通道和多通道驅動器，可用于天花板凹槽等固定裝置。
美國能源部此前已發布了兩份關于測試過程和進展的報告，現在公布的是第三份測試數據報告，涉及了在AST條件下運行6000-7500小時的產品測試結果。
實際上，行業沒有這么多時間對在正常運行環境中的驅動器進行多年的測試。相反，美國能源部及其承包商RTI International已經在他們稱之為7575環境中對驅動器進行了測試 - 室內濕度和溫度均持續維持在在75°C。此次測試涉及兩各階段的驅動器測試，與通道無關。單階段設計成本較低，但缺少首先將AC轉換為DC然后調節電流的單獨電路，而這個單獨電路則是兩階段設計所獨有的。
美國能源部報告指出，在對11種不同驅動器所進行的測試中，所有驅動器均在7575環境中運行了1000小時。當驅動器位于環境室中時，連接到驅動器的LED負載則位于室外的環境條件下，因此AST環境僅影響驅動器。DOE并沒有將AST條件下的運行時間與正常環境下的運行時間聯系起來。第一批裝置在運行了1250小時后失效，盡管有些裝置仍在運行。在測試了4800小時候，64%的設備失效。盡管如此，考慮到測試環境的惡劣，這些結果已經很不錯了。
研究人員發現，大多數故障發生在驅動器的第一階段，特別是功率因數校正（PFC）和電磁干擾（EMI）抑制電路。在驅動器的兩個階段中，MOSFET也存在故障。除了指明可以改善驅動器設計的PFC和MOSFET等地方外，此次AST還表明，通常可以根據監控驅動器的性能來預測故障。例如，監控功率因數和浪涌電流可以提前發現早期故障。閃爍增加也表明即將發生故障。
長期以來，DOE的SSL計劃一直在SSL領域進行著重要的測試和研究，包括在Gateway項目下的應用場景產品測試以及在Caliper項目下商業產品性能的測試等。
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